BDU:2025-11357
Уязвимость функций nativeImage.createFromPath() и nativeImage.createFromBuffer() фреймворка для написания приложений Electron, позволяющая нарушителю получить несанкционированный доступ к защищаемой информации
📄 Описание
Уязвимость функций nativeImage.createFromPath() и nativeImage.createFromBuffer() фреймворка для написания приложений Electron связана с переполнением буфера в динамической памяти. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю получить несанкционированный доступ к защищаемой информации
🖥️ Уязвимое ПО
Electron
Наименование ПО: Electron
Версия ПО: до 28.3.2 (Electron), до 29.3.3 (Electron), до 30.0.3 (Electron)
Тип ПО: Прикладное ПО информационных систем
ОС / платформа:
⚙️ Технические сведения
Тип ошибки
Переполнение буфера в динамической памяти (CWE-122)
Класс уязвимости
Уязвимость кода
Дата выявления
30.06.2025
Способ эксплуатации
Манипулирование структурами данных
Способ устранения
Обновление программного обеспечения
Статус уязвимости
Подтверждена производителем
Наличие эксплойта
Данные уточняются
Устранение
Уязвимость устранена
📊 CVSS
CVSS 2.0
AV:L/AC:H/Au:S/C:C/I:C/A:C
CVSS 3.0
AV:L/AC:H/PR:L/UI:N/S:U/C:H/I:H/A:H
CVSS 4.0
AV:L/AC:H/AT:N/PR:L/UI:N/VC:H/VI:H/VA:H/SC:N/SI:N/SA:N/E:U
⚠️ Уровень опасности
Средний уровень опасности (базовая оценка CVSS 2.0 составляет 6)
Высокий уровень опасности (базовая оценка CVSS 3.1 составляет 7)
Средний уровень опасности (оценка CVSS 4.0 составляет 4,4)
🏷️ Идентификаторы
CVE-2024-46993, GHSA-6r2x-8pq8-9489
📅 Даты
Дата публикации
19.09.2025
Последнее обновление
19.09.2025
← Назад к списку